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中文名稱：場發射掃描電子顯微鏡
英文名稱：Field Emission Scanning Electron Microscope
產品型號：JSM-IT800
生產廠家：日本電子株式會社（JEOL）
附 件：X射線能譜儀
附件廠家：英國牛津儀器公司（Oxford）
主要技術指標：
1 分辨率：0.5 nm@15kV，0.7 nm@1kV；0.9 nm@500V
2 加速電壓：0.01kV~30kV
3 底片放大倍數：10~200萬倍
4 Z大束流值：500nA
主要用途：
該儀器具有超高分辨率，能對各種固態樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。配備有高性能X射線能譜儀系統，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力。
廣泛用于材料、機械、物理、化學化工、生物、醫學、藥學、食品、環境、能源、地質礦物等領域的研究及產品分析，可以觀察和分析上述微米、納米級樣品的表面特征，是研究材料結構與性能關系所不可缺少的重要工具。